安东帕推出新一代激光粒度仪与纳米粒度电位仪

近日，安东帕凭借其近 60 年在粒度测量领域的专业积累，重磅推出新一代Litesizer DIF 激光衍射粒度仪和 Litesizer DLS 系列动态光散射粒度仪，为众多行业的粒度及相关参数测量带来全新解决方案。 

 Litesizer DIF 激光衍射粒度仪 

 Litesizer DIF 激光衍射粒度仪在传承其前身PSA的宝贵经验之上，成功拓宽了测量范围，能够覆盖从0.01µm至3500µm的广泛粒径样品。该仪器搭载了的光学组件，配置了高性能的10 mW与25 mW激光器，以及的 0.01° 到 170° 的宽范围衍射角检测器阵列。其先进的粒度测量软件Kalliope极大地简化了操作流程，用户仅需简单三步（设定参数、采集数据、处理结果），每次点击即可轻松启动测量，无需繁复培训。此外，坚固的金属外壳与隔离式光学平台设计，确保了Litesizer DIF在各种环境中都能表现出色，无论是生产现场还是实验室环境，均能提供可靠的测量性能。该新品适用于水泥和矿物、制药、食品饮料、化工、催化剂、金属粉末等领域。 

 Litesizer DLS 系列动态光散射粒度和 Zeta 电位分析仪 

 Litesizer DLS系列动态光散射粒度和 Zeta 电位分析仪包含101、501、701三个型号，可满足各行业的多样化颗粒测试需求，适用于制药、生命科学、化学工业、食品饮料、重工业和石油、废水和造纸、半导体和电池等行业。该系列具有业界先进的多角度测量和自动角度选择功能，有效减少测量误差；更为先进的 MAPS（多角度协同粒度测量）技术可实现最高的峰值分辨率。其连续透射率监测可在测量过程中检测沉降和团聚，进而提高测量的可靠性。此外，的cmPALS 和 Omega Cuvette 通过解决老化效应并降低电势梯度，极大提高了 Zeta 电位测量的准确性和可重复性。Litesizer DLS 701作为该系列的旗舰产品，集所有测量模式于一身，能够进行粒度、Zeta 电位、分子量、折光率、颗粒浓度、透光率测量，真正做到了一台仪器满足多种分析需求。